1．前言
光纖連接器是光纖通信系統(tǒng)中不可缺少的無(wú)源器件，主要用于實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)中設(shè)備間、設(shè)備與儀表間、設(shè)備與光纖間以及光纖與光纖間的非永久性固定連接。大多數(shù)的光纖連接器由三部分組成：兩個(gè)配合插頭（插芯）和一個(gè)耦合套筒。兩個(gè)插芯裝進(jìn)兩根光纖尾端；耦合套筒起對(duì)準(zhǔn)的作用，套筒多配有金屬或非金屬法蘭，以便于連接器的安裝固定。
目前套筒使用的材料主要為氧化鋯陶瓷和磷青銅，氧化鋯陶瓷套筒由于具有精度高、插入損耗小、使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)，使用日益廣泛。由于陶瓷套筒對(duì)于材料及加工要求極高，多年來(lái)，日本一直壟斷著陶瓷套筒的生產(chǎn)。近年來(lái)，國(guó)內(nèi)企業(yè)與研究單位合作，解決了從氧化鋯陶瓷原料到精密加工的技術(shù)難題，掌握了具有完全知識(shí)產(chǎn)權(quán)的陶瓷套管生產(chǎn)技術(shù)，大規(guī)模批量生產(chǎn)出了氧化鋯陶瓷套筒，質(zhì)量完全達(dá)到了日本產(chǎn)品的技術(shù)要求。
由于維護(hù)中轉(zhuǎn)接跳線和正常測(cè)試等需要，光纖連接器經(jīng)常要進(jìn)行插拔，因此對(duì)于套筒的插拔壽命即最大可插拔次數(shù)有一定的要求，即光纖連接器在正常使用條件下，經(jīng)規(guī)定次數(shù)（一般要求500至1000次）的插拔，各元件無(wú)機(jī)械損傷，附加損耗不超過(guò)限值（通常規(guī)定為0.2dB），光纖連接器的插拔壽命一般是由插芯及套筒的磨損及破損情況決定的。使用開(kāi)槽氧化鋯套筒時(shí)，磨損可以忽略不計(jì)，陶瓷套筒的破損是影響壽命的主要因素。陶瓷套筒在使用過(guò)程中的破碎原因非常復(fù)雜，歸納起來(lái)有以下幾種情況：（1）陶瓷套筒的強(qiáng)度過(guò)低，經(jīng)受不住插芯插入時(shí)所產(chǎn)生的應(yīng)力。（2）陶瓷套筒由于靜態(tài)疲勞而產(chǎn)生破碎。（3）長(zhǎng)期在高溫潮濕情況下，氧化鋯陶瓷套筒產(chǎn)生大量四方相到單斜相的自發(fā)馬氏體相變，從而導(dǎo)致套筒強(qiáng)度大幅度降低。(4) 人為非正常插拔，使陶瓷套筒產(chǎn)生局部應(yīng)力集中。(5) 金屬或非金屬法蘭質(zhì)量不合格。
我們的研究表明，在光纖連接器的使用條件下，陶瓷套筒由于靜態(tài)疲勞和自發(fā)馬氏體相變而破損的可能性極小，本文將針對(duì)第1及第4種破損情況，通過(guò)有限元計(jì)算對(duì)套筒的實(shí)際強(qiáng)度及其插拔過(guò)程中陶瓷套筒所受應(yīng)力進(jìn)行分析，為陶瓷套筒的生產(chǎn)及使用廠家提高參考。
2．陶瓷套筒強(qiáng)度分析
采用日本島津萬(wàn)能力學(xué)試驗(yàn)機(jī)對(duì)國(guó)內(nèi)外不同廠家生產(chǎn)的陶瓷套管進(jìn)行抗壓強(qiáng)度測(cè)試，測(cè)試時(shí)陶瓷套筒的槽口放在側(cè)面，加載速率為0.4mm/min。表1為50只愛(ài)爾創(chuàng)公司陶瓷套筒強(qiáng)度測(cè)試結(jié)果，表2為不同廠家陶瓷套筒破壞強(qiáng)度比較。
3．陶瓷套筒插拔應(yīng)力分析
3.1 正常插拔情況下的應(yīng)力分析
對(duì)于陶瓷材料套管和插芯的拉拔問(wèn)題，經(jīng)過(guò)對(duì)稱的力學(xué)簡(jiǎn)化后，我們利用ANSYS軟件中關(guān)于接觸問(wèn)題的求解模式，對(duì)這個(gè)準(zhǔn)靜態(tài)問(wèn)題進(jìn)行了應(yīng)力分析。
材料的彈性模量E=200GPa，泊松比v=0.25。
對(duì)于此問(wèn)題，我們對(duì)不同尺寸的插芯及套筒進(jìn)行了分析，主要體現(xiàn)在套筒的內(nèi)外直徑，插芯直徑的變化上。套筒內(nèi)外徑分別為2.493及3.20mm，插芯外徑為2.499mm情況下的Von－Mises應(yīng)力。
3.2 陶瓷套筒端部受集中荷載情況下的應(yīng)力分析
對(duì)于此問(wèn)題，我們采用如下實(shí)體及有限元模型，假設(shè)左端部承受2kg的集中載荷，右面端部為固定端約束。
4．討論
根據(jù)以上陶瓷套筒破壞荷載實(shí)際測(cè)試及不同情況下的套筒受力情況的有限元分析，我們做以下討論：
（1）不同廠家氧化鋯陶瓷套筒采用產(chǎn)品直接測(cè)試材料的強(qiáng)度時(shí)，得到的平均強(qiáng)度在735至918MPa之間，低于采用標(biāo)準(zhǔn)彎曲強(qiáng)度試樣得到的彎曲強(qiáng)度，廠家測(cè)試的平均三點(diǎn)彎曲強(qiáng)度一般為900至1200MPa，這種差別是由于測(cè)試條件不同引起的。采用產(chǎn)品測(cè)試陶瓷套筒的破壞強(qiáng)度，可以更直接地評(píng)價(jià)產(chǎn)品地實(shí)際強(qiáng)度，更有實(shí)際意義。
（2）國(guó)產(chǎn)陶瓷套筒與日本產(chǎn)品的強(qiáng)度相當(dāng)，破壞荷載的離散性都比較大，這除了陶瓷材料本身強(qiáng)度離散性大的原因以外，可能與陶瓷套筒制造工藝復(fù)雜有關(guān)。
（3）標(biāo)準(zhǔn)插芯插入陶瓷套筒時(shí)，陶瓷套筒所受到的最大應(yīng)力小于100MPa，換算為抗壓荷載，相當(dāng)于套筒受到2kg的荷載，大大小于陶瓷套筒所能承受的抗壓荷載（一般為10至25kg），即插芯正常插入陶瓷套筒時(shí)一般不會(huì)引起套筒的破損。
（4）但當(dāng)陶瓷套筒受到局部集中荷載時(shí)，由于陶瓷為脆性材料，無(wú)法產(chǎn)生塑性變形抵消所產(chǎn)生的應(yīng)力集中，陶瓷套筒將受到很大的局部應(yīng)力，從而引起陶瓷套筒破壞。例如當(dāng)端部受到2kg集中荷載時(shí)，陶瓷套筒將受到2.04Gpa的應(yīng)力，相當(dāng)于受到約45kg的正常壓力，大大高于陶瓷套筒的強(qiáng)度，引起套筒的破損。因此，在插芯插入陶瓷套筒時(shí)，應(yīng)謹(jǐn)慎操作，盡量使套筒不受局部應(yīng)力集中。
（5）陶瓷套筒的內(nèi)孔尺寸對(duì)套筒所受應(yīng)力有較大影響，在滿足插拔力的前提下，應(yīng)盡量選擇大的套筒內(nèi)孔直徑,以降低陶瓷套筒所受應(yīng)力。當(dāng)插芯直徑增加到2.510mm插入套筒時(shí)，套筒受到約196MPa的應(yīng)力（套筒內(nèi)孔直徑為2.493時(shí)），仍然小于陶瓷套筒的強(qiáng)度，因此也可以采用2.510mm的插芯進(jìn)行插拔試驗(yàn)，檢驗(yàn)陶瓷套筒的強(qiáng)度，進(jìn)行保證試驗(yàn)，以保證套筒在2.499mm標(biāo)準(zhǔn)插芯插拔時(shí)步產(chǎn)生破壞。
5．結(jié)論
通過(guò)以上對(duì)陶瓷套筒在不同情況下所受的應(yīng)力分析，對(duì)于陶瓷套筒在插芯插拔過(guò)程中產(chǎn)生的破碎問(wèn)題，可以得到以下結(jié)論：
（1）正常插拔情況下，標(biāo)準(zhǔn)插芯插入陶瓷套筒時(shí)，將使套筒受到小于100MPa應(yīng)力，大大小于陶瓷套筒所能承受的實(shí)測(cè)應(yīng)力，陶瓷套管能承受的實(shí)測(cè)應(yīng)力范圍一般為450至1150MPa之間。
（2）國(guó)產(chǎn)陶瓷套筒與日本進(jìn)口套筒的強(qiáng)度相當(dāng)，在插拔過(guò)程中，受到局部集中應(yīng)力是陶瓷套筒產(chǎn)生破損的主要原因，在陶瓷套筒使用過(guò)程中應(yīng)盡量避免。
（3）提高陶瓷套筒本身的強(qiáng)度，降低其強(qiáng)度離散性，可以提高抗非正常插拔能力，從而減少陶瓷套筒的破損。
（附圖和表）
陶瓷套管承受集中線載荷作用的力學(xué)分析
1．有限元解法：
此問(wèn)題關(guān)于XZ面對(duì)稱，所以分析時(shí)采用如下實(shí)體模型。線載荷總和為20kg。
其有限元模型為：
其變形圖如下所示：
其節(jié)點(diǎn)位移USUM云圖如下所示：
其Von-Mises應(yīng)力如下面兩個(gè)云圖所示：
最大應(yīng)力值已經(jīng)達(dá)到981MPa
來(lái)自：愛(ài)爾創(chuàng)
0574-86175138
